JIS C 5037:1975
电子元器件机械寿命的测试方法

Endurance (mechanical) testing method for electronic components

作废

电子元器件机械寿命的测试方法, 您可以免费下载预览页

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 JIS C 5037:1975 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号: JIS C 5037:1975
发布单位: 日本工业标准调查会
当前最新: JIS C 5037:1975

JIS C 5037:1975相似标准

ECA 186-12E-1978 无源电子元件测试.方法12:热寿命 186-12E-1978 无源电子元件测试方法；方法 12：热寿命测试 IPC SM-785-1992 chinese 外部贴装焊料附着加速可靠性测试的准则 NB/T 20197.4-2015 核电厂仪表和控制设备可靠性及老化检测第4部分：电路板 GB/T 41275.3-2022 航空电子过程管理含无铅焊料航空航天及国防电子系统第3部分：含无铅焊料和无铅管脚的系统性能试验方法

推荐

服务项目 | 车规功率模块AQG324认证服务

广电计量元器件筛选及失效分析中心对AQG324测试标准进行深入研究，并建立了全套的功率模块可靠性验证技术能力。一 AQG324 电力电子模块认证本标准定义了功率模块所需验证的测试项目、测试要求以及测试条件，适用范围包括电力电子模块的使用寿命和基于分立器件的等效特殊设计，例如用于高达3.5吨机动车辆的电力电子转换器单元(PCU)。这些测试项目、测试要求以及测试条件大体上适用于Si基功率半导体模块。...

电子元器件损坏的简单测试

　　有生就有死，电子元件也有寿命。电子元件的寿命除了与它本身的结构、性质有关，也和它的使用环境和在电路中所起作用密切相关。　　冬天快到来时，突来一股寒流，一部分人体格较差，受不了环境的冷热变化，发烧感冒了，但身体强壮的人抵抗能力强，没有生病。这说明生病和自身体质有关。　　...

进入汽车供应链的电子元器件厂家请检票

在“新四化”的汽车变革趋势下，作为汽车控制大脑的半导体芯片是技术发展的关键。早期，汽车以机械等硬件为主导，电子元器件占整车成本不到1%。而对于“新四化”汽车，以半导体芯片为代表的电子元器件已经占到整车成本的35%左右，预计在2030年将提升至50%以上。相较于消费类等其他工业门类，汽车工业对车载组件有着更高、更严、更宽泛的要求，民用电子元器件不能简单地应用在车载组件上。...

JIS C 5037:1975 中可能用到的仪器设备

其他试验机

JIS C 5037:1975电子元器件机械寿命的测试方法