JIS C7022-1979
半导体集成电路的环境和耐久性试验方法

Environmental testing methods and endurance testing methods for semiconductor integrated circuits

JIS C7022-1979 发布历史

JIS C7022-1979由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 。

JIS C7022-1979 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

JIS C7022-1979的历代版本如下：

•  JIS C7022-1979 半导体集成电路的环境和耐久性试验方法

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 JIS C7022-1979 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

JIS C7022-1979

发布日期

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200

发布单位

JP-JISC