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是用X射线直接照射样品发射X荧光,分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X-射线波长和强度,从而测定各种元素的含量;而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线,照射样品发射X荧光,X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量进行色散,根据各元素特征能量的强度高低来测定各元素的量;根据各元素特征能量的强度高低来测定各元素的量,这就大大提高了仪器的信噪比,提高了能谱仪分析轻元素的能力...
波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。由此研发的两种XRF:波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)能谱色散型X射线荧光光谱仪(ED-XRF),两种仪器有哪些区别与联系,成为了XRF使用人员的都应该知道的基础知识。X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。...
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