IEC 60749-33:2005
半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave

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标准号

IEC 60749-33:2005

发布

2005年

发布单位

国际电工委员会

当前最新

IEC 60749-33:2005

 

 

被代替标准

IEC 47/1737/FDIS:2003 IEC 60749-33:2004 IEC/PAS 62172:2000

适用范围

执行无偏高压釜测试是为了评估使用湿气冷凝或湿气饱和蒸汽环境的非气密封装固态器件的防潮完整性。这是一项高度加速的测试，采用条件

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