IEC 62132-1:2006
集成电路.150kHz～1GHz电磁抗扰度的测量.第1部分:一般条件和定义

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions


 

 

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标准号
IEC 62132-1:2006
发布
2006年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 62132-1:2015
当前最新
IEC 62132-1:2015
 
 
被代替标准
IEC 47A/734/FDIS:2005
适用范围
IEC 62132 的这一部分提供了有关测量集成电路 (IC) 传导和辐射干扰的传导和辐射电磁抗扰度的一般信息和定义。它还提供了测量条件、测试设备和设置以及测试程序和测试报告内容的描述。附件 A 中包含测试方法比较表，以帮助选择适当的测量方法。该标准描述了在统一测试环境中获得 IC 抗扰度定量测量所需的一般条件。描述了预计会影响测试结果的关键参数。与此标准的偏差在单独的测试报告中明确注明。测量结果可用于比较或其他目的。对注入电压和电流的测量，以及在受控条件下测试的 IC 的响应，可得出有关 IC 在给定应用中对传导和辐射 RF 干扰的潜在抗扰度的信息。

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