JIS G 1256:1982
钢铁的荧光X射线分析方法

Fluorescence X-ray analysis method of steel


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 JIS G 1256:1982 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
JIS G 1256:1982
发布
1982年
发布单位
日本工业标准调查会
替代标准
JIS G 1256 AMD 2:2013
JIS G 1256:1997
当前最新
JIS G 1256 AMD 2:2013
 
 

JIS G 1256:1982相似标准


推荐

便携式X射线荧光 (pXRF)斑点分析

上一篇文章回顾:宏观X射线荧光成像(MA-XRF)01分   类便携式X射线荧光(portable X-ray fluorescence, pXRF )斑点分析是一种非侵入-非破坏式分析技术。光谱仪无需接触检测对象,也未出现过检测对象因 pXRF斑点分析发生辐射损伤情况。02说   明pXRF斑点分析是一种表面元素分析技术,是艺术品和其他文物材料研究领域最便利、最常用技术。...

质子激发X射线荧光分析X 射线

  在质子X 射线荧光分析中所测得X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成叠加谱。样品中一般含有多种元素,各元素都发射一组特征X 射线谱,能量相同或相近谱峰叠加在一起,直观辨认谱峰相当困难,需要通过复杂数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底扣除、谱平滑处理、找峰和定峰位、求峰半高宽和峰面积。谱数学解法已研究出多种,并已编制成计算机程序。...

X射线荧光光谱分析稀土研究进展

本文对近二十年来X射线荧光光谱仪在稀土分析方面的应用进行了综述。总结了环境、矿物、稀土富集物、单一稀土化合物、稀土金属、合金、稀土功能材料以及过程分析中稀土元素X射线荧光光谱分析方法,检测方法涉及钢铁、有色金属、石油化工、地质、生物、电子材料等领域。展望了X射线荧光分析方法在稀土行业应用前景。 更多还原...

X 射线荧光光谱如何分析镀(涂)层

 X射线荧光光谱通常用于分析均匀样品中成分含量。对于大多数样品来讲,样品中被激发各个元素X射线荧光只来自于样品表面,样品内部X射线荧光被样品本身吸收了。所以,X射线荧光信号强度与样品厚度无关。这种样品称之为无限厚样品。 当样品很薄时,比如镀层样品,样品中被激发X射线荧光可能会穿透镀层,镀层厚薄会影响X射线荧光信号强弱,镀层越厚,镀层中被激发X射线荧光信号就越强。 ...


JIS G 1256:1982 中可能用到的仪器设备


谁引用了JIS G 1256:1982 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号