IEC 62132-4:2006
集成电路.150kHz-1GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method
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- 标准号
- IEC 62132-4:2006
- 发布
- 2006年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62132-4:2006
- 被代替标准
- IEC 47A/733/FDIS:2005
- IEC 62132 的这一部分描述了一种在存在传导射频干扰（例如由辐射射频干扰引起）的情况下测量集成电路 (IC) 抗扰度的方法。该方法保证了抗扰度测量的高度可重复性和相关性。该标准为评估在无用射频电磁波环境中运行的设备中使用的半导体器件建立了共同基础。
IEC 62132-4:2006相似标准
NF C96-261-4*NF EN 62132-4:2006 集成电路 150kHz～1GHz电磁抗扰度的测量 第4部分：直接射频功率注入法
BS EN 62132-4:2006 集成电路.电磁抗扰度的测量.150kHz～1GHz.直接射频功率注入法
DIN EN 62132-4:2006 集成电路.150kHz-1GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法(IEC 62132-4-2006)
EN 62132-4:2006 集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法 IEC 62132-4:2006
UNE-EN 62132-4:2006 集成电路 150kHz 至 1 GHz 电磁抗扰度测量 第4部分：直接射频功率注入方法
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