IEC 62132-4:2006
集成电路.150kHz-1GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method
IEC 62132-4:2006 发布历史
IEC 62132-4:2006由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2006-02。
IEC 62132-4:2006 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
IEC 62132-4:2006 集成电路.150kHz-1GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法的最新版本是哪一版？
最新版本是 IEC 62132-4:2006 。
IEC 62132-4:2006的历代版本如下：
- 2006年 IEC 62132-4:2006 集成电路.150kHz-1GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法
IEC 62132 的这一部分描述了一种在存在传导射频干扰（例如由辐射射频干扰引起）的情况下测量集成电路 (IC) 抗扰度的方法。该方法保证了抗扰度测量的高度可重复性和相关性。该标准为评估在无用射频电磁波环境中运行的设备中使用的半导体器件建立了共同基础。
IEC 62132-4:2006相似标准
NF C96-261-4*NF EN 62132-4:2006 集成电路 150kHz～1GHz电磁抗扰度的测量 第4部分：直接射频功率注入法
BS EN 62132-4:2006 集成电路.电磁抗扰度的测量.150kHz～1GHz.直接射频功率注入法
DIN EN 62132-4:2006 集成电路.150kHz-1GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法(IEC 62132-4-2006)
EN 62132-4:2006 集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法 IEC 62132-4:2006
UNE-EN 62132-4:2006 集成电路 150kHz 至 1 GHz 电磁抗扰度测量 第4部分：直接射频功率注入方法
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