QJ/Z 32-1977
半导体集成比较放大器测试方法

Testing methods for semi-conductor integrated comparison amplifiers

QJ/Z 32-1977 发布历史

QJ/Z 32-1977由行业标准-航天 CN-QJ 发布于 。

QJ/Z 32-1977 在中国标准分类中归属于: L55 微电路综合，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

QJ/Z 32-1977的历代版本如下：

•  QJ/Z 32-1977 半导体集成比较放大器测试方法

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标准号

QJ/Z 32-1977

发布日期

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L55

国际标准分类号

31.200

发布单位

CN-QJ