BS EN 60749-35:2006
半导体器件.机械和气候试验方法.塑封电子器件的声学显微方法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
- 标准号
- BS EN 60749-35:2006
- 发布
- 2006年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60749-35:2006
- 被代替标准
- 04/30117780 DC-2004
- 适用范围
- IEC 60749 的这一部分定义了对塑料封装电子元件进行声学显微镜检查的程序。 该标准提供了使用声学显微镜以可重复且非破坏性的方式检测塑料包装中的异常情况（分层、裂纹、模具化合物空隙等）的指南。
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