X射线衍射分析、红外光谱分析X-射线粉末衍射法是利用单色X-射线照射到粉末晶体或多晶样品上,所得的衍射图称为粉末图。用粉末图谱解决有关晶体结构等问题的方法称为X-射线粉末衍射法;通常用Debye-Scherrer照相法。其优点是所需样品少,甚至0.1mg也可以测定,收集的衍生数据完全,仪器设备和试验操作简单。另外多晶体X-射线衍射仪是记录多晶衍射的衍射线的衍射角和衍射强度数据的仪器设备。...
电气通用技术条件 JB/T 6440-1992 阀门受压铸钢件射线照相检验 JB/T 7260-1994 空气分离设备铜焊缝射线照相和质量分级 JB/T 7412-1994 固定式(移动式)工业Χ射线探伤仪 JB/T 7413-1994 携带式工业Χ射线探伤机 JB 7788-1995 500kv以下工业Χ射线探伤机 防护规则 JB/T 7902-1999 线型象质计 JB/T 7903...
应用范围: 工业用X射线衍射仪在当今科技领域里用来分析各种物质成分结构的测试仪器已得到了广泛的应用。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说,X射线衍射仪都是物质表征和质量控制不可缺少的方法。XRD能分析晶体材料诸如产业废弃物、矿物、催化剂、功能材料等的相组成分析,大部分晶体物质的定量、半定量分析;晶体物质晶粒大小的计算;晶体物质结晶度的计算等。 ...
H.Friedmann和L.S.Birks于1948年制成第一台波长色散x-射线荧光分析仪,60年代XRF光谱分析法在分析领域的地位得以确立。如今,该方法被广泛应用于工业领域。...
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