JJG(电子) 310003-2006
半导体分立器件电容参数测试仪检定规程

Specification for verification of capacitor parameter testers for semiconductor discrete devices

JJG(电子) 310003-2006 发布历史

JJG(电子) 310003-2006由国家计量检定规程 CN-JJG 发布于 。

JJG(电子) 310003-2006 在中国标准分类中归属于: L86 通用电子测量仪器设备及系统，在国际标准分类中归属于: 17.220 电学、磁学、电和磁的测量。

JJG(电子) 310003-2006的历代版本如下：

•  JJG(电子) 310003-2006 半导体分立器件电容参数测试仪检定规程

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 JJG(电子) 310003-2006 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

JJG(电子) 310003-2006

发布日期

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L86

国际标准分类号

17.220

发布单位

CN-JJG