ISO 14999-4:2007
光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
Optics and photonics - Interferometric measurement of optical elements and optical systems - Part 4: Interpretation and evaluation of tolerances specified in ISO 10110
- 标准号
- ISO 14999-4:2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 14999-4:2015
- 当前最新
- ISO 14999-4:2015
- 引用标准
- ISO 10110-14 ISO 10110-5
- 适用范围
- ISO 14999 的这一部分适用于与光学元件测量相关的干涉数据的解释。 ISO 14999 的这一部分给出了根据 ISO 10110-5 和/或 ISO 10110-14 制作的光学元件和系统图纸中指定的光学功能的定义，以及通过视觉分析进行干涉评估的指南。
ISO 14999-4:2007相似标准
BS ISO 14999-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.ISO 10110中指定公差的注释和评定
KS B ISO 14999-4:2011 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:KS B ISO 10110中指定公差的注释和评定
KS B ISO 14999-4:2016 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉仪测量 第4部分：KS B ISO 10110中指定公差的注释和评定
NF S10-009-4*NF ISO 14999-4:2015 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第4部分：ISO 10110 中规定的公差的解释和评估
DIN ISO 14999-4 Beiblatt 1:2020-04 光学和光子学-光学元件和光学系统的干涉测量-第4部分：ISO 10110中规定的公差的解释和评估
推荐
了解表面质量
光学组件的表面质量是对可能会在制造和处理过程中产生的表面缺陷（划痕和凹坑或麻点）的评估。表面质量对激光应用比对成像应用更重要，因为表面缺陷可能会引发激光诱导损伤。需要大功率的敏感系统也可能会因为表面缺陷而形成光通量变化和散射的增加。比起适用于可见光或 IR 系统的光学元件，适用于 UV 波长的光学元件对表面质量公差的要求更严格，因为波长越短，接受的散射量越高。...
非球面镜和球面镜的差别及应用
与其他光学方法一样，测量仪器的选择是基于成本和效益的比较，以便能够决定使用哪种方法。球面的应用领域球面的应用范围很广，例如在计量学、航空航天（安装在卫星内的光谱仪）或医疗技术（用于检查眼睛前段的裂隙灯）。由于低制造成本、快速生产时间和广泛的光学应用的结合，球体是光学市场的一个组成部分，并以非常好的价格性能比来说服人们。...
5月开始实施的国家标准清单，多数涉及检测
：减反射膜基本要求211GB/T 26332.6-2022光学和光子学 光学薄膜 第6部分：反射膜基本要求212GB/T 26332.7-2022光学和光子学 光学薄膜 第7部分：中性分束膜基本要求213GB/T 26332.8-2022光学和光子学 光学薄膜 第8部分：激光光学薄膜基本要求214GB/T 28826.4-2022信息技术 公用生物特征识别交换格式框架 第4部分：安全块格式规范215GB...
ISO 14999-4:2007 中可能用到的仪器设备
谁引用了ISO 14999-4:2007 更多引用
NF S10-008-5*NF ISO 10110-5:2015 光学和光子学.光学元件和系统制图.第5部分:表面形状公差
BS ISO 10110-5:2015 光学和光子学 准备光学元件和系统的图纸 表面形状公差
DIN ISO 10110-5:2008 光学和光子学.光学元件和系统的图形制备.第5部分:表面形状公差(ISO 10110-5-2007).英文版本DIN ISO 10110-5-2008
DIN ISO 10110-14:2008 光学和光子学.光学元件和系统的图形制备.第14部分:波阵面变形公差(ISO 10110-14-2007).英文版本DIN ISO 10110-14-2008
ISO 10110-14:2007 光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第14部分:波阵面变形公差
ISO 10110-5:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第5部分:表面形状公差