GEIA-STD-0005-2-2006
航天和高性能电子系统锡晶影响减轻标准

Standard for Mitigating the Effects of Tin Whiskers in Aerospace and High Performance Electronic Systems


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 GEIA-STD-0005-2-2006 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 

标准号
GEIA-STD-0005-2-2006
发布
2006年
发布单位
政府电子与信息技术协会(US-GEIA改名为US-TECHAMERICA)
 
 
适用范围
由于各种实际和潜在的健康问题,电子产品生产中使用的许多组成材料都受到严格审查。

GEIA-STD-0005-2-2006相似标准


谁引用了GEIA-STD-0005-2-2006 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号