JEDEC JESD22-A100-B-2000
循环的温度潮湿对寿命影响的试验

Cycled Temperature-Humidity-Bias Life Test


 

 

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标准号
JEDEC JESD22-A100-B-2000
发布
2000年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
 
 
适用范围
循环温度-湿度-偏置寿命测试通常在空腔封装(例如 MQUAD、带盖陶瓷引脚网格阵列等)上进行,作为 JESD22-A 10 1 或 JESD22-A11 O 的替代方案。

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