JEDEC JEB5-A-1970
半导体逻辑门微电路测量方法
Methods of Measurement for Semiconductor Logic Gating Microcircuits
- 标准号
- JEDEC JEB5-A-1970
- 发布
- 1970年
- 发布单位
- (美国)固态技术协会,隶属EIA
- 当前最新
- JEDEC JEB5-A-1970
- 适用范围
- 对于使用二进制状态表示数字信息的半导体逻辑门控微电路的电路配置来说，输入和输出之间存在逻辑关系。逻辑条件可以通过在输入和输出上测量的电气参数来识别以描述二进制状态。来描述状态，但最常用的是电压。可以使用电压或电流
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