JEDEC JEB15-1969
双稳半导体微电路测量的术语和方法
Terminology and Methods of Measurement for Bistable Semiconductor Microcircuits
- 标准号
- JEDEC JEB15-1969
- 发布
- 1969年
- 发布单位
- (美国)固态技术协会,隶属EIA
- 当前最新
- JEDEC JEB15-1969
- 适用范围
- 此格式旨在用于注册半导体集成双稳态逻辑 circ-dta，包括单片、多芯片、fihl 0 和混合双稳态电路，