JEDEC JEP128-1996
Wafer-Level电测的标准探针垫大小和布置指南
Guide for Standard Probe Pad Sizes and Layouts for Wafer-Level Electrical Testing
- 标准号
- JEDEC JEP128-1996
- 发布
- 1996年
- 发布单位
- (美国)固态技术协会,隶属EIA
- 当前最新
- JEDEC JEP128-1996
- 适用范围
- 本指南适用于半导体晶圆或芯片上与一个或多个测试结构电连接的双列和单列金属探针焊盘阵列。