JEDEC JEP148-2004
基于故障风险的物理性和选择评估的半导体器件的鉴定

Reliability Qualification of Semiconductor Devices Based on Physics of Failure Risk and Opportunity Assessment


 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 JEDEC JEP148-2004 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

 

标准号
JEDEC JEP148-2004
发布
2004年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
当前最新
JEDEC JEP148-2004
 
 
适用范围
半导体产品渗透到越来越多的应用领域，加上成本和上市时间的经济力量，需要有效的资格认证概念。这一要求影响了资格认证过程的组织以及开发/创新过程以及资格认证方法。为了满足上市时间目标，必须采取积极主动的做法，例如预先质量规划、“增量认证”和开发过程中的确认。这些活动的结果，包括使用更多现有知识，将成为产品是否已准备好进入市场的证据的基础。

JEDEC JEP148-2004相似标准

GB/T 34590.11-2022 道路车辆 功能安全 第11部分：半导体应用指南 GB/T 34954.1-2017 航空电子过程管理 电子器件使用性能 第1部分：温度升额 GB/T 41040-2021 宇航用商业现货（COTS）半导体器件 质量保证要求 JEDEC JEP148A-2008 基于物理失效风险和机会评估的半导体器件可靠性鉴定 JEDEC JEP148B-2014 基于物理失效风险和机会评估的半导体器件可靠性鉴定

推荐

车规级 | ISO26262 道路车辆功能安全认证

●故障注入模拟。关于广电计量半导体服务广电计量在全国设有元器件筛选及失效分析实验室，形成了以博士、专家为首的技术团队，构建了元器件国产化验证与竞品分析、集成电路测试与工艺评价、半导体功率器件质量提升工程、车规级芯片与元器件AEC-Q认证、车规功率模块AQG324认证等多个技术服务平台、满足装备制造、航空航天、汽车、轨道交通、5G通信、光电器件与传感器等领域的电子产品质量与可靠性的需求。...

FAMT 2022会议邀请: 失效分析和材料测试会议

Albert Minj比利时imec报告题目：启用电子扫描探针显微镜以研究基于 GaN 的异质结构和器件Prof....

今日下午两点会议邀请：失效分析和材料测试会议(报告人来自三星半导体, imec, Molecular Vista等企业）

Albert Minj比利时imec报告题目：启用电子扫描探针显微镜以研究基于 GaN 的异质结构和器件Prof....

“人造石墨烯”有望打开激光器应用大门

该课题旨在研究与开发基于GRM的医用新技术，具体目标包括：实现对单分子(无论是气相还是液相)的选择性检测；开发细胞仿生系统；检测膜/细胞表面的电场与化学梯度；开发多向界面，解决电子器件与生物软组织间的机械失配问题。 　　GRM与半导体器件的集成 　　GRM与传统的基于硅、GaAs、GaNg、InP的半导体器件的集成，可以提升混合系统的性能。...

谁引用了JEDEC JEP148-2004 更多引用

JEDEC JESD94A-2008 基于试验方法学知识的特殊用途证书


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号