JEDEC JESD74A-2007
半导体器件的早期寿命故障运价计算程序
Early Life Failure Rate Calculation Procedure for Semiconductor Components
- 标准号
- JEDEC JESD74A-2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- (美国)固态技术协会,隶属EIA
- 适用范围
- 产品的早期故障率 (ELFR) 测量通常在产品鉴定期间进行，或者作为持续产品可靠性监控活动的一部分进行。这些测试测量产品在投入使用后最初几个月的可靠性能。因此，建立一种能够根据实际客户使用条件准确预测早期故障率的方法非常重要。
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