BS EN 62132-3:2007
集成电路.150 kHz～1 GHz电磁抗扰性的测量.大容量电流注入(BCI)法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Bulk current injection (BCI) method
- 标准号
- BS EN 62132-3:2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 62132-3:2007
- 引用标准
- IEC 62132-1-2006
- 被代替标准
- 03/105045 DC-2003
- 适用范围
- IEC 62132 的这一部分描述了一种大电流注入 (BCI) 测试方法，用于测量集成电路 (IC) 在存在传导 RF 干扰（例如由辐射 RF 干扰引起）的情况下的抗扰度。 此方法仅适用于具有板外电线连接（例如连接到电缆线束）的 IC。 该测试方法用于在一根或多根导线上注入射频电流。 该标准为评估在受到不需要的射频电磁信号的环境中使用的设备中应用的半导体器件建立了一个共同基础。
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