CNS 12865-8-1991
数字微电子检验法(负载条件)

Method of Test for Digital Microelectronics ( Load Condition )


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 CNS 12865-8-1991 前三页,或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文,请联系:

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
CNS 12865-8-1991
发布日期
1991年05月20日
实施日期
1991年05月20日
废止日期
国际标准分类号
31.200;19.080
发布单位
CN-CNS
适用范围
本标准规定数字微电子组件,如 TTL、DTL、RTL、ECL 和 MOS 之静态或动态量测时所需附加的负载条件。




Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号