BS EN 60749-6:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.高温下储存

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Storage at high temperature

被代替

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标准号

BS EN 60749-6:2002

发布

2002年

发布单位

英国标准学会

替代标准

BS EN 60749-6:2017

当前最新

BS EN 60749-6:2017

 

 

被代替标准

01/208602 DC-2001 BS EN 60749:1999

适用范围

IEC 60749 这部分的目的是测试和确定在不施加电应力的情况下在高温下存储对所有半导体电子器件的影响。 该测试被认为是非破坏性的，但最好用于设备鉴定。 如果使用此类设备进行输送，则需要评估这种高度加速的压力测试的效果。 一般来说，高温储存测试符合IEC 60068-2-48，但由于半导体的特殊要求，适用本标准的条款。

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