BS EN 60749-10:2002
半导体装置.机械和气候试验方法.机械振动

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Mechanical shock

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 BS EN 60749-10:2002 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

BS EN 60749-10:2002

发布

2002年

发布单位

英国标准学会

当前最新

BS EN 60749-10:2002

 

 

被代替标准

00/203568 DC-2000 BS EN 60749:1999

适用范围

IEC 60749 的这一部分描述了一种冲击测试，旨在确定电子设备中使用的零部件的适用性，这些电子设备可能会因粗暴搬运、运输或操作而产生的突然施加的力或突然的运动变化而遭受中等程度的严重冲击。 现场操作。 这种类型的冲击可能会干扰操作特性，特别是当冲击脉冲重复时。 这是一个破坏性的测试。 它通常适用于空腔型封装。 一般来说，该机械冲击测试符合 IEC 60068-2-27，但由于半导体的特殊要求，该标准的条款适用。

推荐