BS EN 60749-11:2002
半导体装置.机械和气候试验方法.温度速变.双流体浸泡法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method

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标准号

BS EN 60749-11:2002

发布

2002年

发布单位

英国标准学会

当前最新

BS EN 60749-11:2002

 

 

被代替标准

00/203570 DC-2000 BS EN 60749:1999

适用范围

IEC 60749的本部分定义了温度快速变化测试方法和两液浴方法。 当两种测试方法都作为设备鉴定的一部分进行时，空气到空气温度循环的结果优先于这种双流体浴测试方法。 该测试方法还可以使用较少的循环（例如5至10个循环）来测试浸没在用于清洁装置的加热液体中的效果。 该测试适用于所有半导体器件。 除非相关规范中另有详细说明，否则它被认为是破坏性的。 一般来说，这种温度快速变化和两液浴法测试符合 IEC 60068-2-14，但由于半导体的特殊要求，适用本标准的条款。

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