The scope of this document i s limited to dose-rate radiation effects on semiconductor electronics and i s specifically intended to address hardness assurance at the piece-part level.
DLA MIL-HDBK-815 CHG NOTICE 1-2002由美国国防后勤局 US-DLA 发布于 2002-01-10。
DLA MIL-HDBK-815 CHG NOTICE 1-2002 在中国标准分类中归属于: F85 勘探采矿和工艺监测核仪器。
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