DIN EN 60747-5-3-2003
半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法 (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); 德文版本 EN 60747-5-3:2001 + A1:2002

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices; Measuring methods (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); German version EN 60747-5-3:2001 + A1:2002

DIN EN 60747-5-3-2003 发布历史

DIN EN 60747-5-3-2003由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2003-01-01，并于 2003-01-01 实施。

DIN EN 60747-5-3-2003 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.260 光电子学、激光设备。

DIN EN 60747-5-3-2003的历代版本如下：

• 2003年01月01日 DIN EN 60747-5-3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法 (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); 德文版本 EN 60747-5-3:2001 + A1:2002

DIN EN 60747-5-3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法 (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); 德文版本 EN 60747-5-3:2001 + A1:2002 于 2011-11 变更为 DIN EN 60747-5-5-2011 半导体设备.分离式元件.第5-5部分:光电元件.光融合元件(IEC 60747-5-5-2007);德文版本EN 60747-5-5-2011。

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标准号

DIN EN 60747-5-3-2003

发布日期

2003年01月01日

实施日期

2003年01月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.260

发布单位

DE-DIN

代替标准

DIN EN 60747-5-5-2011

被代替标准

DIN EN 60747-5-3-2002 DIN IEC 47C/199/CD-1998

DIN EN 60747-5-3-2003系列标准

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