DLA SMD-5962-91726-1994
硅单块 三态输出,带八进制缓冲器的扫描测试装置,双极互补金属氧化物半导体,数字微型电路

MICROCIRCUIT, DIGITAL, BIPOLAR CMOS, SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL BUFFER, THREE-STATE OUTPUTS, MONOLITHIC SILICON

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标准号

DLA SMD-5962-91726-1994

发布

1994年

发布单位

美国国防后勤局

 

 

适用范围

该图纸形成了一份-一份数字文档系统的一部分（参见本文6.6）。 Tu0 产品保证等级包括军用高可靠性（设备等级 9 和 MI 和空间应用（设备等级 V））以及外壳轮廓和引线表面的选择，并反映在零件或识别号 (PIN) 中。 1.2。 MIL-STD-883 的“1”，“关于将 MIL-STD-883 与符合要求的非 JAN 设备结合使用的规定”。可用，抗辐射保证 (RHA) 级别的选择反映在 PIN 中。设备 M 类微电路代表符合 uith 的非 JAN B 类微电路

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