ANSI/EIA 364-101:2000
电连接器、插座、电缆附件或互连系统衰减试验程序

Attenuation Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets and Cable Assemblies or Interconnection Systems

被代替

电连接器、插座、电缆附件或互连系统衰减试验程序, 您可以免费下载预览页

高级搜索

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 ANSI/EIA 364-101:2000 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号: ANSI/EIA 364-101:2000
发布: 2000年
发布单位: 美国国家标准学会
替代标准: ANSI/EIA 364-101:2013
当前最新: ANSI/EIA 364-101:2013

适用范围: 本标准适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。

ANSI/EIA 364-101:2000相似标准

ECA EIA-364-101-2000(R2007) TP-101 电连接器、插座、电缆组件或互连系统的衰减测试程序 ECA EIA-364-100-1999 TP-100 电连接器、插座和电缆组件或内连接系统的衰减试验程序 ECA EIA-364-101-2000 TP-101 电连接器、插座和电缆组件或内连接系统的衰减试验程序 EIA-364-101-2000 TP-101 电气连接器衰减测试程序插座互连系统的电缆组件 ANSI/EIA 364-103:1998 电连接器、插座、电缆附件或互连系统传播延迟试验程序

推荐

冷热循环冲击试验箱的满足标准和冷冻系统简介

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式 SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式　　IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则　　GB/T 2423.22-2002温度变化 QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则　　EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估　　...

半导体元器件失效分析

• 三级封装(系统级封装)：将二极封装产品通过选层、互连插座或柔性电路板与母板连接起来，形成三维立体封装，构成完整的整机系统(立体组装技术)2、微电子的失效机理（1）热/机械失效热疲劳热疲劳失效主要是由于电源的闭合和断开引起热应力循环，造成互连焊点变形，最终产生裂纹失效分析例子——连接器的过机械应力疲劳损伤样品：SMA连接器(阴极)现象：外部插头(阳极)与该SMA接头连接不紧，装机前插拔力检验合格失效模式...

平衡车好玩又方便，但它也是定时炸弹！

《电动汽车用电池滥用试验》MIL-STD-1629A 《执行故障模式、影响和临界分析的程序》【声明】原文来自网络，由ICAS英格尔整理编辑...

箱式冷热冲击试验箱满足的试验方法

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式IEC68-2-14_试验方法N_温度变化GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则GB/T 2423.22-2002温度变化QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估...

ANSI/EIA 364-101:2000电连接器、插座、电缆附件或互连系统衰减试验程序