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X射线衍射仪是对物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的基本手段。X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析,如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定(晶体结构分析)、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可精确地测定物质的晶体结构,如:物相定性与定量分析,衍射谱的指标化及点阵参数。 ...
事实上,X射线残余应力分析仪是一款完全满足和符合欧标、美标和国标的要求的残余奥氏体检测设备,其相关标准如下:BS EN 13925-3-2005BS EN 15305-2008ASTM E915-2010GB/T 7704-2008残余应力仪检测过程这无疑说明了X射线残余应力分析仪的使用安全,技术能力和精度标准达到了国际要求的水准。...
X射线衍射仪 基本构成 (1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。 (2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。 (3) 射线检测器 检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。 ...
X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析,如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定(晶体结构分析)、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可地测定物质的晶体结构,如:物相定性与定量分析,衍射谱的指标化及点阵参数。 ...
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