CSN 35 8767-1982
半导体二极管．电气参数的测量方法

Semiconductor diodes Methods of electrical parameters measurement

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标准号

CSN 35 8767-1982

发布

1982年

发布单位

CZ-CSN

当前最新

CSN 35 8767-1982

 

 

适用范围

Schválenie ST SEV 2769-80 odporu?ilo Federálně ministerstvo elektrotechnického priemyslu. Spracovatel: TESLA Pie??any, koncernov? podnik Ing. Jozef Walla Odborové normaliza?ně st?edisko: TESLA ES, koncern Ro?nov Pracovník Uradu pre normalizáciu a meranie: Ing. J. Pribek

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