CSN 35 8756-1973
半导体设备.晶体管Y参数的测量

Semiconductor devices. Transistors Measurement of y-parameters


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 CSN 35 8756-1973 前三页,或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文,请联系:

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
CSN 35 8756-1973
发布日期
1973年06月13日
实施日期
废止日期
发布单位
CZ-CSN
适用范围
Zpracovatel: Tesla Ro?nov, národní podnik, Ro?nov pod Radho?těm, odpovědn? pracovník - Ing. Václav Sehnalík Pracovník ??adu pro normalizaci a mě?ení: Ing. Viktor Kotrubenko

CSN 35 8756-1973 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号