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二次荧光效应在电子探针测试中是普遍现象,忽略该效应带来的影响,则很可能获得错误的结果,导致地质解释不合理。(三) 场发射电子探针低电压下元素分析测试:目前低电压条件测试和校正的系统研究还比较少,场发射电子探针通常仍采用传统的高电压(15~20kV)条件,极大地限制了场发射电子探针高空间分辨率及低电压下大束流稳定的优势。因此,该方向测试技术的开发迫在眉睫。...
点击上方蓝字关注“公众号”电子探针显微分析电子探针显微分析是微束分析技术中一个应用极为广泛的领域,是通过各种材料或产品的微米尺度成份和结构分析来进行质量管理和质量检验的重要技术手段。电子探针显微分析的物理基础是基于高能电子与试样相互作用激发 X 射线和 X 射线光谱学的原理。...
电子探针(EPMA)具有显微形貌观察和成分分析的功能,与SEM+EDS相比,电子探针更侧重成分分析。电子探针因出色的微区元素分析能力,被广泛应用于材料质量解析、失效分析及热处理工艺等研究。...
相对于上述仪器,电子探针测年具有成本低、方便快捷、原位、无损等特点,由于电子探针电子束可以压缩至纳米级别,用于元素分析的特征X射线空间分辨率为微米级别,激发源比其它仪器高一个数量级,针对不均匀微区的定年,电子探针显然是更佳选择。岛津EPMA-8050G场发射型电子探针源自日本学者的研究独居石电子探针测年由日本名古屋大学Suzuki等人首次依据经典等时线算法提出,国内学者等也进行了相关研究。...
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