一般工程用途的电镀金涂层规范 不是强制性中国国家标准,您可以免费下载预览页
找不到引用IS 3266-1982 的标准
根据不同材料特性需要,配有多款测试探头: 1)高耐磨碳化钨探针探头,测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻; 2)球形镀金铜合金探针探头,测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻; 3)配合四端子测试夹具,测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻; 4)高温四探针测试仪探头可测试电池极片等箔上涂层电阻率...
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