通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。...
二、 原理 X射线管产生的初级X射线照射样品表面，样品中元素外层电子被激发发产生能级跃迁而释放出元素特征X射线荧光，能量色散型探测器将不同元素的特征X射线荧光分辨并探测其强度，称为能量色散型X射线荧光光谱仪。样品中元素特征X射线荧光经分光晶体按其波长不同进行分光，并由探测器探测强度，称为波长色散型X射线荧光光谱仪。...
二次靶技术：X射线管出射谱激发二次靶特征X射线，用于激发样品中较重元素，得到适宜的计数率和高分辨率。高分辨率SDD探测器：采用高性能SDD探测器，分辨率优于130eV。全球唯一一款满足水泥全元素检测精度的桌上型X射线荧光光谱仪 MERAK-CEM II 独特设计自充气光路吹扫系统微型光路腔体设计，采用自充气系统，只需几秒钟即可完成充气，气体循环出室外，安全稳定。...
单波长能量色散X射线荧光分析技术，光管出射射线不直接入射样品，而是通过双曲面弯晶将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点，激发样品中元素荧光，这样极大降低了由于X射线管出射谱韧致辐射照射样品而产生的背景干扰，从而获得较佳的元素特征X射线荧光信号峰背比，降低了元素的检出限。 ...
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