是用X射线直接照射样品发射X荧光,分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X-射线波长和强度,从而测定各种元素的含量;而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线,照射样品发射X荧光,X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量进行色散,根据各元素特征能量的强度高低来测定各元素的量;根据各元素特征能量的强度高低来测定各元素的量,这就大大提高了仪器的信噪比,提高了能谱仪分析轻元素的能力...
用大功率的X射线照射样品,样品可以被激发出各种元素能量的特征荧光X射线,不同元素的特征能量各不相同,通过半导体探测器分别测量不同元素特征能量的X射线的强度,就可以进行定性分析。而样品受激发后发射的某一元素的特征X射线强度与元素在样品中的含量有关,因此通过建立元素与含量的数学模型后,就能对元素进行定量分析。 ...
由于该仪器的品牌繁多,产品的技术指标没有统一的规范,仪器的可靠性及测量结果的准确性等指标在国内还没有形成统一的检定规范。笔者根据SI–PIN(硅半导体探测器)和SDD(硅漂移探测器)两种类型检测的能量色散X 荧光光谱仪在这一领域的不完善和仪器的实际检定要求,参考相关仪器的检定规程,提出了能量色散X 射线荧光光谱仪的检定方法。...
后面会有对波长色散X射线荧光光谱仪结构的详细介绍,此处要介绍的是能量色散X射线荧光光谱仪相比波长色散X射线荧光光谱仪的不同点。能量色散X射线荧光光谱仪不采用晶体分光系统,二是利用半导体检测器的高分辨率,再配有多道脉冲分析器,直接测量试样X射线荧光的能量。因此能量色散X射线荧光光谱仪的结构相比波长色散X射线荧光光谱仪会显得结构更小型轻便。...
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