GB/T 11685-2003
半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers

GBT11685-2003, GB11685-2003


标准号
GB/T 11685-2003
别名
GBT11685-2003, GB11685-2003
发布
2003年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 11685-2003
 
 
被代替标准
GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989
适用范围
本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。 本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。

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