BS EN 60749-1:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.总则

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General

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标准号

BS EN 60749-1:2003

发布

2003年

发布单位

英国标准学会

当前最新

BS EN 60749-1:2003

 

 

被代替标准

01/203181 DC-2001 BS EN 60749:1999

适用范围

IEC 60749 的这一部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路），并制定了该系列所有其他部分通用的规定。 当本标准与相关采购规范相矛盾时，以相关采购规范为准。

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