BS EN 60749-36:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.稳态加速
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Acceleration, steady state
- 标准号
- BS EN 60749-36:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60749-36:2003
- 被代替标准
- 01/208601 DC-2001 BS EN 60749:1999
- 适用范围
- IEC 60749 的这一部分提供了确定恒定加速度对腔型半导体器件影响的测试。 它是一种加速测试，旨在指示冲击和振动测试中不一定检测到的结构和机械缺陷类型。 它可用作高应力（破坏性）测试，以确定封装、内部金属化和引线系统、芯片或基板附件以及微电子器件的其他元件的机械极限。 当建立了适当的应力水平后，该测试方法也可以用作非破坏性在线 100% 筛选，以检测和消除任何结构元件中机械强度低于正常强度的装置。 一般来说，这种加速稳态测试方法符合IEC 60068-2-7，但由于半导体的特殊要求，适用本标准的条款。