ONORM M 1114-1982
用接触式(触针)仪器测量表面粗糙度

Measurement of surface roughness with contact (Stylus) Instruments


 

 

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标准号
ONORM M 1114-1982
发布
1982年
发布单位
AT-ON
当前最新
ONORM M 1114-1982
 
 
适用范围
该“规范”包含粗糙度测量设备的用户需要了解这些设备如何工作并解释其结构的定义。它可以用于所有技术生产的表面,只要它们可以用电笔设备进行测试。1) 区分粗糙度和波纹度或其他形状偏差尤为重要。该“NORM”专门处理使用高通滤波对这些参数进行电气分离(参见第 6 节)。

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