T?m?n standardin menetelm?ll? voidaan mitata tutkittavan putkieristeen tai -eristyksen l?mp?h?vio tunnetuissa l?mp?tilaoloissa. Mittausarvoista voidaan laskea l?mm?njohtavuus kohdissa 5 ja 6 mainituin edellytyksin.
Mittaaminen perustuu termisen jatkuvuustilan saavuttamiseen. Mittausputki on vaakasuorassa asennossa. Mittausputken l?mp?tila on korkeampi kuin ymp?r?iv?n koehuoneen ilman l?mp?tila.
Mittausputken pintal?mp?tila saa olla korkeintaan yht? suuri kuin n?ytteen tai mittalaitteen korkein k?ytt?l?mp?tila.
N?ytteen ulkopinnan l?mp?tilaan voidaan tarvittaessa vaikuttaa k?ytt?m?ll? l?mmitetty? tai j??hdytetty? vaippaa tai ylim??r?ist? tasamittaista eristekerrosta.
Mittausarvoista laskettua l?mmonjohtavuutta voidaan k?ytt?? esim. tietyll? putkieristyksell? rakennettavan kohteen enstepaksuuden optimointiin.
Vaakasuorille n?ytteille, joilla on sama koko ja l?mp?tila ja jotka toimivat samoissa ymp?rist?olosuhteissa, voidaan t?m?n menetelm?n mukaan saatuja arvoja k?ytt??:
erilaisten n?ytteiden keskin?iseen vertailuun,
eristeen laadunvalvontaan,
teknisen? tietona arvioimaan todellisten sovellusten l?mp?h?vi?it?.
Jos menetelm?n mukaan mitattuja arvoja k?ytet??n eristyksien vertailuun, niin vertailut tehd??n eristyksen mitatun l?mp?h?vi?n eik? mittausarvoista lasketun lammonjohtavuuden suhteen. Vertailuun k?ytett?vien arvojen tulee perustua samasta enstyskohteesta tehtyihin v?hint??n kolmen eri mittauksen mittaustuloksiin.