SIS SS-ISO 9220:1989
金属涂层．涂层厚度测量．扫描电子显微镜方法

Metallic coatings — Measurements of coating thickness — Scanning electron microscope method


 

 

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标准号
SIS SS-ISO 9220:1989
发布
1989年
发布单位
SE-SIS
 
 
适用范围
本国际标准规定了通过扫描电子显微镜（SEM）检查横截面来测量金属涂层局部厚度的方法。它具有破坏性，不确定性小于 10 % 或 0,1 |jm，以较大者为准。它可用于厚度达几毫米的样品，但在适用时使用光学显微镜 (ISO 1463) 通常更实用。

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