SIS SS 675-1989
表面粗糙度．通过电子齿形记录设备测量表面粗糙度

Surface roughness — Measurement of surface roughness by means of electrical profile recording instruments

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 SIS SS 675-1989 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

SIS SS 675-1989

发布

1989年

发布单位

SE-SIS

当前最新

SIS SS 675-1989

 

 

适用范围

Denna standard ger riktlinjer f?r m?tning av ytj?mnhet med elektriska profilregistrerande instrument. Standarden inneh?ller valda delar ur de internationella standarderna ISO 1880:1979 och ISO 3274:1975. Vid best?mning av ytj?mnhet med elektriska instrument omvandlas profilregistreringen till en elektrisk signal. Signalen f?r passera ett filter med en funktion som motsvarar inplacering av referensl?ngd i ett profildiagram. Den av filtret modifierade signalen utv?rderas sedan med hj?lp av integrerande kretsar som genomf?r ber?kningar av R%, Rz, Ry etc analoga med definitionerna i SS-ISO 4287-1. I ISO 3274 presenteras detta m?tf?rfarande som om profilen i instrumenten existerade i sin ursprungliga l?geskoordinatform i st?llet f?r verklighetens amplitud- tidsform. Samma f?rfarande har valts i denna standard. Vidare ben?mns enligt praxis ytawikelsernas utstr?ckningar i vertikalled (y-led) amplituder och i horisontalled (r-led) v?gl?ngder.

SIS SS 675-1989相似标准

推荐

SIS SS 675-1989 中可能用到的仪器设备