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NanoCalc 光学薄膜厚度测量系统NanoCalc是一种用户可配置的膜厚测量系统,它利用分光光谱反射仪来精确地测量光学或非光学薄膜厚度,可广泛应用于半导体、医疗和工业生产中。利用白光干涉测量法的原理,NanoCalc用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据,由于反射率n和k随膜厚的不同而变化,NanoCalc根据这一特性来进行曲线拟合从而求得膜厚。...
图3.通过比较颜色,对金板测试箔上的碳层厚度进行视觉测试的原则图4:样本由安特卫普大学的Frédéric Leroux博士制作。如果没有晶振片测量系统,这种简单的测试方法也能起到效果,但它显然没有石英测量系统精确。涂层厚度是在涂层过程结束后进行评估的。因此,它无法在涂层过程中给予反馈。很明显,这是一个粗略评估的方法,精度为+/-几个纳米。它不能提供纳米级别的沉积碳层精确信息,也不具备可重复性。...
XRF分析是一种成熟、值得信赖的可靠技术,可用于测量从珠宝到工程设备等各种部件的镀层厚度。作为质量控制流程的一个关键部分,您很可能会依靠XRF的测试结果来控制流程,并在发货前测试成品部件的质量。然而,虽然XRF是一种可靠的技术,但它也很容易得到错误结果,尤其是对于镀层厚度测量。在这篇文章中,我们将讨论您的XRF测量出错的原因,以及您可以采取的预防措施。...
产品特点可以在数秒内得到测量结果可以测量从1nm到10mm的薄膜厚度可以测量厚度、折射率、反射率和穿透率产品参数测量结果我们深耕薄膜测量行业十多年,不论您在薄膜测量方面有什么问题,我们的技术专家都可以为您提供有价值的建议或解决方案。欢迎来电,我们很高兴与您讨论您的应用问题。...
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