非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 STAS SR ISO 3497:1992 前三页，或者稍后再访问。
您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。
点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......
X射线荧光(XRF)光谱学是一种用于确定材料元素组成的非破坏性分析技术。XRF分析仪的工作原理是测量样本在被初级X射线源激发时发出的荧光(或次级)X射线。样本含有的每一种元素都会产生一组特征性荧光X射线，或独特的“指纹”。每种元素产生的“指纹”各不相同，使XRF分析成为定量和定性测量的绝佳工具。(在钢铁制造中，XRF用于分析原材料、炉渣和合金。)...
射线荧光光谱仪的补充使用，都将极大地提高质量或质检项目效率，这些X射线荧光光谱仪包括台式MAXXI，Eco及 X-Strata系列，手持型X-MET8000系列以及线上Conti系统。...
涂层厚度的测量方法主要有楔切法、光学截断法、电解法、厚度差测量法、称重法、x射线荧光法、射线背散射法、电容法、磁性测量法和涡流测量法。前五种方法都是有损检测，测量手段繁琐、速度慢，更适合抽样检查。 EXF镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可测量各种金属涂层的厚度，包括单层、双层、多层、合金涂层等。EXF涂层测厚仪是一种能谱分析方法，属于物理分析方法。...
X射线荧光法，一直是元素分析的重要方法，同时也适用于样品涂镀层厚度及成分分析。如果您在如下行业中从事分析测试工作：1. 贵金属、珠宝首饰黄金分析，贵金属合金分析，珠宝镀层分析，铂金上的铑镀层分析2. 钢铁、五金电镀钢材镀锌/铬、铝材镀锆/钛、哈式合金镀层厚度测定3. 装饰材料：装饰涂层分析4. ...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号