10 YS/T 1344.3-2020掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分:物相分析 X射线衍射分析法 本部分规定了掺锡氧化铟粉中物相的测定方法。 本部分适用于掺锡氧化铟粉中物相的测定。11 YS/T 1345.1-2020高铋铅化学分析方法 第1部分:铅含量的测定 Na2EDTA滴定法 本部分规定了高铋铅中铅含量的测定方法。 本部分适用于高铋铅中铅含量的测定。...
例如:表面化学分析二次离子质谱硅中砷的深度剖析方法(GB/T32495-2016)、钢铁锡、锑、铈、铅和铋的测定电感耦合等离子体质谱法(GB/T32548-2016)。...
X射线衍射法制订2020-11-2046稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析法 第6部分:铕中镧、铈、镨、钕、钐、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇的测定修订2020-11-2047离子型稀土矿混合稀土氧化物化学分析方法 第1部分:十五个稀土元素氧化物配分量的测定修订2020-11-2048硬质合金 钴粉中钙、铜、铁、钾、镁、锰、钠、镍和锌含量的测定 火焰原子吸收光谱法制订2020-11-2049...
7YS/T 1344.2-2020掺锡氧化铟粉化学分析方法 第2部分:硅含量的测定 钼蓝光度法本部分规定了掺锡氧化铟粉中硅含量的测定方法。本部分适用于掺锡氧化铟粉中硅含量的测定。测定范围:0.000 5 %~0.010 %。8YS/T 1344.3-2020掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分:物相分析 X射线衍射分析法本部分规定了掺锡氧化铟粉中物相的测定方法。本部分适用于掺锡氧化铟粉中物相的测定。...
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