JIS K 0119:2008
X射线荧光光谱测定法总则
General rules for X-ray fluorescence analysis
- 标准号
- JIS K 0119:2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 日本工业标准调查会
- 当前最新
- JIS K 0119:2008
- 引用标准
- JIS K 0211 JIS K 0212 JIS K 0215 JIS Q 0030
- 被代替标准
- JIS K 0119:1997
- 适用范围
- 本日本工业标准规定了使用荧光 X 射线光谱分析仪器测量样品产生的荧光 X 射线以及对样品中所含元素进行定性分析和定量分析的一般规则。范围涵盖厚度测定和绘图分析。
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