ASTM D5477-02
傅里叶变换红外线显微光谱法识别聚合物层或夹杂物的标准实施规范

2011-01

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适用范围: 斑点最终会由于其在薄膜中的出现或由于聚合物基材中电气或机械性能的下降而导致故障发生（参见规范 D 1248）。通过显微傅里叶变换红外光谱 (FT-IR) 对用于阻隔目的的复合层进行分析，可以表明阻隔带是否充足，或表明阻隔层可能存在缺陷的原因（层缺失或层中存在孔洞，或者共挤实践不良）。图1代表典型的多层薄膜。如图。 1 材料在典型多层薄膜中的位置和功能 1.1 本实践描述了用于检测两种不同聚合物实体的技术，如下：
1.1.1 表面或薄膜中作为缺陷而令人反感的异常斑点或斑点 1.1.2 层通常用作共挤制成的阻隔膜的不同聚合物片材。
1.2 以 SI 单位表示的值应被视为标准。括号中给出的值仅供参考。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。具体危险说明在第 7 节中给出。注释 18212；没有类似或等效的 ISO 标准。

ASTM D5477-02傅里叶变换红外线显微光谱法识别聚合物层或夹杂物的标准实施规范