ASTM C835-01(2006)
最高达1400℃的表面的整个半球辐射的标准试验方法

Standard Test Method for Total Hemispherical Emittance of Surfaces up to 1400176C

被代替

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标准号

ASTM C835-01(2006)

发布

2001年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM C835-06

当前最新

ASTM C835-06(2020)

 

 

适用范围

1.1 本量热测试方法涵盖了金属和石墨表面以及涂层金属表面高达约 1400176;C 的总半球发射率的测定。最高使用温度仅受样品特性（例如熔化温度、蒸气压）和测试设施的设计限制的限制。该测试方法已被证明可用于 1400176；C.1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。有关具体危险说明，请参阅第 7 节。