ASTM C1118-89(2000)
波长色散X射线荧光(XRF)系统用部件选择的标准指南
Standard Guide for Selecting Components for Wavelength-Dispersive X-Ray Fluorescence (XRF) Systems
ASTM C1118-89(2000) 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- ASTM C1118-89(2000)
- 发布
- 1989年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM C1118-07
- 当前最新
- ASTM C1118-07
- 1.1 本指南描述了用于材料分析的波长色散 X 射线荧光系统的组件。本指南可作为核材料波长色散 X 射线荧光 (XRF) 分析测试方法仪器部分的参考。 1.2 推荐的组件包括X射线探测器、信号处理电子设备、激发源和色散晶体。 1.3 未描述或推荐详细的数据分析程序，因为它们可能是特定分析问题所独有的。某些应用程序可能需要在数据缩减期间使用复杂的计算机软件来校...
ASTM C1118-89(2000)相似标准
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X荧光光谱仪分类及比较
一、X-射线荧光光谱仪（XRF) 简介 X-射线荧光光谱仪（XRF）是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF），是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。...
WD-XRF与ED-XRF到底区别在哪？
1、原理区别X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。...
XRF还有两幅面孔呢！波长色散型和能谱色散型区别何在？
原理区别X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。...